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圖1：外露散熱焊盤的QFN封裝
 

一、QFN封裝的特點

QFN是一種無引腳封裝，呈正方形或矩形，封裝底部中央位置有一個大面積裸露焊盤用來導(dǎo)熱，圍繞大焊盤的封裝四周有實現(xiàn)電氣連接的導(dǎo)電焊盤。由于QFN封裝不像傳統(tǒng)的SOIC與TSOP封裝那樣具有鷗翼狀引線，內(nèi)部引腳與焊盤之間的導(dǎo)電路徑短，自感系數(shù)以及封裝體內(nèi)布線電阻很低，所以它能提供卓越的電性能。此外，它還通過外露的引線框架焊盤提供了出色的散熱性能，該焊盤具有直接散熱通道，用于釋放封裝內(nèi)的熱量。通常將散熱焊盤直接焊接在電路板上，PCB中的散熱過孔有助于將多余的功耗擴散到銅接地板中，從而吸收多余的熱量。圖1顯示了這種采用PCB焊接的外露散熱焊盤的封裝。

由于體積小、重量輕，以及極佳的電性能和熱性能，QFN封裝特別適合任何一個對尺寸、重量和性能都有要求的應(yīng)用。與傳統(tǒng)的28引腳PLCC封裝相比，32引腳QFN封裝的面積（5mm×5mm）縮小了84%，厚度（0.9mm）降低了80%，重量（0.06g）減輕了95%，電子封裝寄生效應(yīng)也降低了50%，所以非常適合應(yīng)用在手機、數(shù)碼相機、PDA及其他便攜電子設(shè)備的高密度PCB上。

 

二、PCB焊盤設(shè)計

QFN的焊盤設(shè)計主要包含以下三個方面：周邊引腳的焊盤設(shè)計、中間熱焊盤及過孔的設(shè)計和對PCB阻焊層結(jié)構(gòu)的考慮。

1、周邊引腳的焊盤設(shè)計

對于QFN封裝，PCB的焊盤可采用與全引腳封裝一樣的設(shè)計，周邊引腳的焊盤設(shè)計尺寸如圖2所示。在圖中，尺寸Zmax為焊盤引腳外側(cè)最大尺寸，Gmin是焊盤引腳內(nèi)側(cè)最小尺寸，D2t為散熱焊盤尺寸，X、Y是焊盤的寬度和長度。

圖2：PCB焊盤的設(shè)計尺寸

MLF封裝的焊盤的公差分析包括元件公差、印制板制造公差和貼裝設(shè)備的精度。這類問題的分析IPC已建立了一個標(biāo)準(zhǔn)程序，根據(jù)這個程序可計算得出各種MLF元件推薦的焊盤尺寸，表1列出了一些常見的引腳間距為0.5mm的QFN封裝的PCB焊盤設(shè)計尺寸。

2、 散熱焊盤和散熱過孔設(shè)計

QFN封裝具有優(yōu)異的熱性能，主要是因為封裝底部有大面積散熱焊盤，為了能有效地將熱量從芯片傳導(dǎo)到PCB上，PCB底部必須設(shè)計與之相對應(yīng)的散熱焊盤和散熱過孔。散熱焊盤提供了可靠的焊接面積，過孔提供了散熱途徑。

通常散熱焊盤的尺寸至少和元件暴露焊盤相匹配，然而還需考慮各種其他因素，如避免和周邊焊盤的橋接等，所以熱焊盤尺寸需要修訂，具體尺寸如表1所示。

表1：PCB焊盤設(shè)計尺寸（單位：mm）

 

散熱過孔的數(shù)量及尺寸取決于封裝的應(yīng)用情況、芯片功率大小，以及電性能的要求。建議散熱過孔的間距在1.0～1.2mm，過孔尺寸在0.3～0.33mm。散熱過孔有4種設(shè)計形式：使用干膜阻焊膜從過孔頂部或底部阻焊;使用液態(tài)感光（LPI）阻焊膜從底部填充;或者采用“貫通孔”，如圖3所示。上述方法各有利弊：從頂部阻焊對控制氣孔的產(chǎn)生比較好，但PCB頂面的阻焊層會阻礙焊膏印刷;底邊的阻焊和底部填充由于氣體的外逸會產(chǎn)生大的氣孔，覆蓋2個熱過孔，對熱性能方面有不利的影響;貫通孔允許焊料流進過孔，減小了氣孔的尺寸，但元件底部焊盤上的焊料會減少。散熱過孔設(shè)計要根據(jù)具體情況而定，建議使用頂部或底部阻焊。

圖3：散熱過孔的4種設(shè)計形式

回流焊曲線和峰值溫度對氣孔的形成也有很大的影響，經(jīng)過多次實驗發(fā)現(xiàn)，在底部填充的熱焊盤區(qū)域，當(dāng)峰值回流溫度從210℃增加到215～220℃時，氣孔減少;對于貫通孔，PCB底部的焊料流出隨回流溫度的降低而減少。

3、阻焊層的結(jié)構(gòu)

建議使用NSMD阻焊層，阻焊層開口應(yīng)比焊盤開口大120～150μm，即焊盤銅箔到阻焊層的間隙有60～75μm，這樣允許阻焊層有一個制造公差，通常這個公差在50～65μm之間。當(dāng)引腳間距小于0.5mm時，引腳之間的阻焊可以省略。